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　　　　 集成電路(IC)電磁兼容設(shè)計高級班

班級規(guī)模及環(huán)境--熱線:4008699035 手機(jī):15921673576( 微信同號)

每期人數(shù)限3到5人。

上課時間和地點

上課地點：【上�！浚和瑵�(jì)大學(xué)(滬西)/新城金郡商務(wù)樓(11號線白銀路站) 【深圳分部】：電影大廈(地鐵一號線大劇院站)/深圳大學(xué)成教院【北京分部】：北京中山學(xué)院/福鑫大樓【南京分部】：金港大廈(和燕路) 【武漢分部】：佳源大廈（高新二路）【成都分部】：領(lǐng)館區(qū)1號（中和大道）【沈陽分部】：沈陽理工大學(xué)/六宅臻品【鄭州分部】：鄭州大學(xué)/錦華大廈【石家莊分部】：河北科技大學(xué)/瑞景大廈【廣州分部】：廣糧大廈【西安分部】：協(xié)同大廈
最近開課時間(周末班/連續(xù)班/晚班）： EMC設(shè)計開課時間：2025年4月7日--即將開課-----即將開課，歡迎垂詢

實驗設(shè)備

　    ☆資深工程師授課


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        1、可免費在以后培訓(xùn)班中重聽；
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　　　　　 集成電路(IC)電磁兼容設(shè)計高級班

【培訓(xùn)大綱: 】

一、集成電路EMC技術(shù)概論
1.1、何謂集成電路EMC設(shè)計
1.2、集成電路EMC標(biāo)準(zhǔn)與規(guī)范
1.3、EMC的效費比-EMC介入時間與成本的關(guān)系
1.4、電磁兼容設(shè)計與抗電磁騷擾的區(qū)別
1.5、集成電路的EMC設(shè)計管理

二、IC版圖設(shè)計中的EMC/EMI問題
2.1、版圖設(shè)計
2.2、版圖舉例: ?I噪聲電流/瞬態(tài)負(fù)載電流/?I噪聲電壓
2,3、版圖舉例: 差模騷擾/共模騷擾
2.4、版圖舉例: 傳導(dǎo)騷擾耦合
2.5、版圖舉例: 共阻抗騷擾耦合
2.6、版圖舉例: 共電源阻抗耦合
2.7、版圖舉例: 感應(yīng)騷擾耦合/串?dāng)_
2.8、版圖舉例: 輻射騷擾耦合/非閉合載流電路/閉合載流電路
2.9、版圖舉例: 敏感度特性/耦合途徑

三、IC版圖EMC設(shè)計
3.1、減小版圖互連線路走線的阻抗
3.2、版圖布局和布線的準(zhǔn)則：
1)、低頻布線取最短距離(最小電阻)；
2)、高頻布線取最小環(huán)路面積(最小阻抗);
3)、布局與不兼容分割
3.3、版圖中電源網(wǎng)格/地線網(wǎng)格,電源總線/信號總線和接地設(shè)計準(zhǔn)則
3.4、層次化結(jié)構(gòu)和多金屬層設(shè)計與應(yīng)用/金屬距離和密度
1)、層疊設(shè)計,層數(shù)和大小的選擇
2)、2W原則
3)、傳輸延遲和特性阻抗及阻抗匹配
4)、信號完整性的含義
5)、信號完整性問題
6)、IC設(shè)計中的串?dāng)_
3.5, ESD電路分析
1)、新ESD技術(shù)減小IC的I/O尺寸
2)、深亞微米CMOS芯片ESD保護(hù)結(jié)構(gòu)設(shè)計
3)、電路實例

四、IC地線設(shè)計
4.1、接地系統(tǒng)
4.2、IC中的接地

五、IC中的屏蔽設(shè)計
5.1、屏蔽材料與厚度的選擇和屏蔽效能的計算
5.2、IC中的屏蔽

六、濾波設(shè)計
6.1、濾波器的種類
6.2、如何選擇濾波器的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)
6.3、如何計算濾波器的插入損耗與頻率特性

七、成功IC版圖舉例
7.1、電源電壓檢測電路版圖設(shè)計
7.2、利用CADENCE IC Craftsman自動布局布線
7.3、SuperV芯片的版圖優(yōu)化
7.4、Ledit版圖設(shè)計軟件
7.5、門級ASIC的分層物理設(shè)計

八、集成電路設(shè)計軟件
8.1、Cadence RF設(shè)計Kits(錦囊)
8.2、CADENCE:SiP IC設(shè)計主流化
8.4、用于 RFIC設(shè)計的Calibre驗證
8.5、LCoS(Liquid-Crystal-On-Silicon) 顯示芯片
8.6、CMOS 器件版圖 DUMMY 圖形

九、掌握IC封裝特性抑制EMI
9.1、DIP
9.2、芯片載體封裝
9.3、方型扁平封裝（Quad Flat Package）
9.4、BGA封裝
9.5、CSP封裝
裸芯片組裝
9.7、倒裝芯片(Flip Chip)(簡稱:FC)
9.8、多芯片模塊
9.9、系統(tǒng)芯片（SOC）

十、集成電路EMC標(biāo)準(zhǔn)與試驗方法
IEC62132標(biāo)準(zhǔn)試驗方法：
IEC62132標(biāo)準(zhǔn)：集成電路電磁抗擾度
通用條件和定義；
輻射抗擾度測量方法--橫電磁波室法（TEM Cell）；
傳導(dǎo)抗擾度測量方法--電流注入法（BCI）；
傳導(dǎo)抗擾度測量方法--直接激勵注入法（DPI）；
傳導(dǎo)抗擾度測量方法--WFC（Workbench Faraday Cage）法。
10.2、IEC61967標(biāo)準(zhǔn)試驗方法：
IEC61967標(biāo)準(zhǔn)：集成電路電磁發(fā)射
通用條件和定義；
輻射發(fā)射測量方法--橫電磁波室法（TEM Cell）
輻射發(fā)射測量方法--表面掃描法；
傳導(dǎo)發(fā)射測量方法--1Ω/150Ω直接耦合法；
傳導(dǎo)發(fā)射測量方法--WFC (Workbench Faraday Cage）方法；
傳導(dǎo)發(fā)射測量方法--探針法。

培訓(xùn)對象：
可靠性經(jīng)理（主管）、開發(fā)部經(jīng)理、技術(shù)部經(jīng)理、EMC工程師、可靠性工程師、質(zhì)量經(jīng)理、質(zhì)量管理工程師、QC工程師、QA工程師、EMC實驗室技術(shù)員、IC設(shè)計開發(fā)工程師、IC測試工程師等

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雙休日、節(jié)假日及晚上可致電值班電話：4008699035 值班手機(jī)：15921673576（微信同號）或加qq:1299983702和微信:shuhaipeixun
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