1.1 總體與樣本
樣本均值的分布—標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布及T分布
雙樣本均值差分布
正態(tài)樣本方差的分布—卡方分布
獨立正態(tài)樣本方差之比的分布—F分布
1.2 中心極限定理
1.2 參數(shù)的點估計
點估計的概念
點估計的評選標(biāo)準(zhǔn)
1.3 MSA測量系統(tǒng)
分辨力與穩(wěn)定性
偏倚和線性
測量重復(fù)性和再現(xiàn)性
測量走勢圖
測量線性研究
屬性測量R&R 研究(計數(shù))
1.4 均值檢驗
單樣本Z測試
單樣本T測試
雙樣本T測試
成對T測試
1.5方差檢驗
單正態(tài)總體方差檢驗
雙總體等方差檢驗
多樣本等方差檢驗
單因子方差分析
單因子ANOVA分析基本原理
單因子ANOVA分析練習(xí)
1.6 比率檢驗
單因子比率檢驗
雙因子比率檢驗
列聯(lián)表與卡方檢驗
1.7 中位數(shù)檢驗
符號檢驗法
秩和檢驗法
第二天 相關(guān)與回歸及SPC控制圖
2.1單因子方差分析
2.2 相關(guān)分析
2.3簡單線性回歸分析
2.4 線性回歸方程的建立
2.5 線性回歸方程顯著性檢驗
2.6 回歸系數(shù)的顯著性檢驗
2.7 殘差診斷
2.8利用回歸方程進行預(yù)測
2.9 QC控制圖-SPC
2.10計量控制圖
Xbar-R Chart
Xbar-S Chart
I-MR-R/S Chart
子組控制圖
2.11 計數(shù)控制圖
P Chart
NP Chart
C Chart
2.12 過程能力分析
計數(shù)型數(shù)據(jù)過程能力分析
計量型數(shù)據(jù)過程能力分析
第三天 試驗設(shè)計DOE基礎(chǔ)
3.1 試驗設(shè)計基礎(chǔ)
試驗設(shè)計基本術(shù)語
試驗設(shè)計基本原則
試驗設(shè)計類型
試驗設(shè)計基本步驟
3.2 單因子試驗設(shè)計
3.3 全因子試驗設(shè)計
二水平全因子試驗設(shè)計
全因子設(shè)計的計劃
全因子設(shè)計的分析
3.4 部分因子試驗
3.5響應(yīng)曲面試驗設(shè)計
響應(yīng)曲面試驗設(shè)計概論
響應(yīng)曲面試驗設(shè)計計劃
響應(yīng)曲面試驗分析
響應(yīng)曲面試驗最優(yōu)分析 |